二重ニッケルめっきの個々のめっき層の膜厚と電気化学的電位を同時に測定できる迅速かつ簡便な測定方法について検討行った。　　　　　　　　　　　　　　　　　新しい方法による二重ニッケルめっきの膜厚測定の原理は、めっき被膜をアノーディックに溶解し、ファラディの法則を利用して被膜の厚さを算出する方法である。めっき層の判別は、個々のニッケルめっきの電位を測定し、電位変化が生じる点を検出することによって行う。