前回の報告＜その1＞で、二重ニッケルめっきの個々の膜厚は、STEP法によって簡易に測定できることを明らかにしたが、今回、同方法を二重ニッケルめっきの腐食特性の測定手段として応用するために、光沢ニッケル（BNi）および半光沢ニッケルめっき（SBNi）の電位におよぼす添加剤および金属不純物の影響、SBNiとBNi間の電位差と耐食性の関連を検討したものである。